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MIC
显微分析软件

MIC

通用显微分析软件

迅数科技自主研发的高精度显微图像分析平台,集 “显微成像 - 智能处理 - 精准测量 - 数据管理” 于一体,旨在为科研机构、工业实验室及临床检测提供高效、精准的显微图像分析解决方案。
图像智能技术

软件集成了先进的图像处理算法、智能识别技术及模块化功能设计,支持从图像采集到数据分析的全流程自动化

应用领域广泛

广泛应用于生物医学、材料科学、工业检测等领域,并适配奥林巴斯、尼康等主流显微镜。

显微成像与实时交互
  • 硬件适配标配光学显微镜,支持明场、相差等多种观察模式;搭载2300万像素真彩电子目镜(INX294IC),分辨率达0.5-1.0 微米,支持 0.03MV 高灵敏度成像及 1/30S 高速捕捉,确保细胞、颗粒等微观结构清晰呈现。
  • 实时操作动态观察与图像捕捉:实时预览显微视野,一键抓拍任意帧图像,支持旋转、缩放(1-100 倍)、镜像翻转及局部区域聚焦。
图像增强与优化
  • 自适应增强:通过对原图像进行与其特征匹配的分辨增强处理,使图像更清晰,边缘更明显,以便进行图像细微结构的观察与识别;
  • 多维度调整:支持亮度、对比度、饱和度、RGB 通道独立调节,一键转换灰度图、负相图;
  • 图像滤波:集成高斯滤波、中值滤波等 6 种滤波方式;
  • 边缘检测:两种检测方式、三种算子结合多种检测选项
  • 形态学处理:腐蚀、膨胀、开启、闭合等非线性数学形态学处理
  • 失真补偿:通过线性补偿、对数补偿、贝尔补偿等数学模型,校正因光路或传感器引起的图像畸变,还原真实显微结构。
图像自适应增强
真实影像图
图像自适应增强
图像处理优化效果图
图像自适应增强
图像自适应增强
真实影像图
图像自适应增强
图像处理优化效果图
图像自适应增强
颗粒统计分析
  • 颗粒统计与分类
  • 自动统计:自动颗粒计数,并显示每个颗粒的面积、周长、直径、圆度等形态参数;
  • 智能筛选:通过直径范围、色度 / 亮度 / 饱和度筛选特定目标,支持伞形、圆形、矩形等任意区域统计;
  • 粘连处理:自动或手动分割重叠颗粒,采用采用多种分割算法,适合不同背景的颗粒统计;
  • 批量分析:支持多图批量导入,自动生成统计汇总表,并根据样本稀释度、区域面积自动换算实际浓度。
精准测量工具
  • 几何参数测量支持直径、长度、弧度、角度、面积、周长、圆度等 20 + 项形态参数测量,内置自动标定功能(含默认标定值),精度误差≤0.1%;可绘制直线、曲线、多边形等任意形状,实现不规则目标的轮廓拟合与参数计算。
  • 可视化标注直接在图像上添加文字注释、箭头、标尺等标注,绘制直线 / 角度标尺辅助形态分析;